歡迎光臨本公司網(wǎng)站！不管您來我們網(wǎng)站是選型號還是買產(chǎn)品，請加一下上方手機衛(wèi)星號，保證我們提供的服務您會滿意的，因為我們是提供專業(yè)服務的。您能在茫茫網(wǎng)海中，找到我們這里，說明與我們很有緣分，不管結(jié)果如何，讓我們從這里開始相識、相交到相見。從此以后不管您身在何方，只要您有任何產(chǎn)品問題都可以向我們咨詢，我們會滿懷熱情，盡大的努力為您釋疑。您順手加個衛(wèi)星備用，以后有相關(guān)問題發(fā)一條信息給我們，我們就可以為您解答，還可以為您提出一些相關(guān)專業(yè)的參考意見。一次簡單的相遇，交一生的朋友，買賣不成情誼在，這次不成，下次還有機會：合適——您今天下單；不合適——您改天下單；來與不來——友誼在；買與不買——情義在；一年又一年，我們一直都在翹首等待您的到來！米恩科技，誠信經(jīng)營，用心服務 。————深圳市米恩科技有限公司

致茂Chroma7505半導體*封裝光學測量系統(tǒng)

主要特色：

• 整合白光干涉量測技術(shù)，進行非破壞性的光學尺寸量測。
• 可進行待測物之關(guān)鍵尺寸(CD)、Overlay(OVL)及Thickness等量測需求
• 垂直與水平軸向掃描范圍大，適合各種自動量測之應用，大量測尺寸達12吋晶圓
• 待測物皆不需前處理即可進行非破壞且快速的表面形貌量測與分析
• 提供快速自動對焦演算法與大面積接圖功能
• 提供腳本量測功能具備自動量測能力
• 提供量測數(shù)據(jù)資料的存檔功能，供后續(xù)操作人員處理分析使用
• 本設備已通過SEMI S2認證
• 可搭配EFEM

Chroma 7505 Series半導體*封裝光學量測系統(tǒng)主要整合白光干涉量測技術(shù)，進行非破壞性的12吋晶圓之3D關(guān)鍵尺寸量測。可進行待測物之關(guān)鍵尺寸(CD)、Overlay(OVL)及Thickness等量測需求，同時配備電動調(diào)整移動平臺，可對樣品做自動調(diào)平及定位。垂直與水平軸向掃描范圍大，適合各種自動量測之應用，待測物皆不需前處理即可進行非破壞且快速的表面形貌量測與分析，并提供快速自動對焦演算法與大面積接圖功能以及腳本量測功能具備自動量測能力，此外系統(tǒng)亦提供量測數(shù)據(jù)資料的存檔功能，供后續(xù)操作人員處理分析使用。

取得產(chǎn)品價格. 點選您有興趣的產(chǎn)品并加入詢價車, 簡單2步驟將詢價單寄給我們, 或繼續(xù)回到產(chǎn)品頁選取更多產(chǎn)品.

 致茂Chroma7505半導體*封裝光學測量系統(tǒng)