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Chroma A712306 液晶模組自動測試探頭

主要特色：

• 可與液晶模組自動測試系統(tǒng)整合進行液晶模組自動閃爍調(diào)整
• 可整合Chroma 29XX系列液晶模組自動測試系統(tǒng)
• 支援FMA和FLVL閃爍量測模式
• 磚利調(diào)整演算法，調(diào)整速度快
• 搭配使用LCM Master軟體，可自行編輯調(diào)整腳本
• 提供防碰撞、防靜電及防電磁干擾的保護套，可適用各種惡劣的使用環(huán)境

Chroma A712306 LCM 自動測試系統(tǒng)用閃爍量測探頭，系專為液晶模組自動閃爍調(diào)整應用所設 計，依循視頻電子標準協(xié)會（Video Electronics Standards Association, VESA）所規(guī)范的FMA (Flicker Modulation Amplitude)及JEITA(Japan Electronics and Information Technology Industries Association)量測方法進行閃爍程度的量測，搭配使用Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統(tǒng)可達到自動閃爍調(diào)整的目的。

Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統(tǒng)的主要目的為提供待調(diào)整液晶模組的電源及訊號，依據(jù)不同的介面及尺寸可選購不同的型號及配件，透過291x LCM ATS并可控制 A712306依據(jù)VESA所定義的FMA及JEITA 兩種量測方法將閃爍值取回， 據(jù)此進行判定，當閃爍值大于規(guī)格值時將透過閃爍調(diào)整介面對待測物進行Vcom電壓的調(diào)整，搭配磚利的閃爍調(diào)整演算法可快速的在數(shù)秒內(nèi)完成整個調(diào)整程序。Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統(tǒng)所搭配的自動閃爍調(diào)整程式并可針對不 同型號的待測物編輯不同的腳本，不需再進行軔體的燒錄，可彈性的適用于市面上大部份具備數(shù)位Vcom功能的液晶模組，可有效提升生產(chǎn)業(yè)者的測試效率，降低測試設備及人工成本。

FMA量測原理

假如液晶顯示器的亮度變化如下圖所顯示，亮 度的AC成份等于Vmax-Vmin, 亮度DC成份等于 (Vmax+Vmin)/2。根據(jù)VESA FMA 計算公式： 
FMA= AC lux. / DC lux. = (Vmax-Vmin)/{ (Vmax+Vmin)/2} x 100%

FLVL量測原理

FLVL的量測方法，為將A712306的量測到的資 料，傳送到符合人眼感受flicker的濾波器中，再 將資料輸出到FFT分析儀，利用FFT分析儀得到不 同頻率的能量分布。JEITA標準Flicker計算方式： P0 表示頻率0時的功率頻譜 Px 表示在不同頻率時的功率頻譜。 Flicker amount = 10 x log (Px/P0) [dB]

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Chroma A712306 液晶模組自動測試探頭